第十一届中国计算机学会中国测试学术会议征稿通知

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      信息技术的快速发展对电子电路与信息系统的软硬件测试技术和容错能力提出
了新的要求。为了促进我国测试与容错技术领域的学术交流,中国计算机学会容错计
算专业委员会决定于 2020 年 8 月 20日在西安召开第十一届中国计算机学会中国测试
学术会议(CCF CTC2020)。会议将通过高质量的前沿技术报告、学术报告、专题讨
论等形式,就测试与容错技术等领域的最新研究进展和发展趋势开展广泛、深入的学
术交流。欢迎从事测试、容错、可信、硬件安全、集成电路设计自动化及相关领域研
究工作的产学研各界专家、学者以及学生代表踊跃投稿与参会。
一、主办与承办单位
主办单位:中国计算机学会
 承办单位:中国计算机学会容错计算专业委员会,
西安邮电大学,西安科技大学
二、会议时间与地点
 时间:2020 年 8 月 20 日至 23 日
 地点:陕西省西安市,陕西宾馆
三、征文范围(但不限于该范围)
1. 测试理论与技术
A. 集成电路测试(数/模)    B. 集成电路验证与调试     C. 测试仪与测试平台
D. 软件测试    E. 安全攸关缺陷的程序分析与验证    F. 故障诊断
2. 容错计算
A. 可靠性与安全性度量和评估    B. 可靠性设计   C. 容灾与备份
D. 高端容错计算系统   E. 国防、航天等行业容错系统设计应用    F. 高可靠嵌入式系统
3. 可信计算
A. 可信计算理论   B. 可信与安全芯片   C. 可信网络   D. 可信软件   E. 可信系统
4. 硬件安全
A. 集成电路安全隐患建模与验证    B. 硬件木马检测与防护   C. 物理不可克隆函数
D. IoT 安全    E. FPGA 安全   F. 硬件辅助软件安全
5. 集成电路设计自动化(EDA)
A. 纳米尺度电路 EDA   B. 面向制造设计 DFM    C. 领域定制加速器   D. 汽车等新领域设计自动化
6. 大数据、云计算中的测试、可靠、可信技术
7. 电动汽车、无人汽车中的测试、可靠、可信、辅助设计技术
8. 新能源、电力系统中的测试、可靠、可信、辅助设计技术
9. 新材料、新器件、新计算模式下的测试与可靠性问题
10. 测试、容错、可信技术的应用
11. 物联网测试、可靠性、安全、功耗等相关技术
12. 可重构设计、测试、容错、安全等相关技术
四、征稿要求
本次会议接受中文或英文稿件,所有投稿论文必须是未曾公开发表过的,论文录
取后需要作者到会作口头报告,否则予以撤稿处理。本次会议将以电子论文集形式供
会议交流(无版权)。
经会议程序委员会评审,优秀论文将推荐至下列期刊,作者收到推荐邮件后仍可
选择放弃推荐。特约编辑将综合文章修改和现场报告情况做最终录用决定。期刊论文
版面费由作者自行缴纳。
《清华大学学报》英文版(SCI) 7 篇:
http://tst.tsinghuajournals.com/EN/1007-0214/home.shtml
《中国邮电高校学报》英文版(EI) 10 篇:
http://journal13.magtechjournal.com/Jwk_yddxen/CN/volumn/home.shtml
《郑州大学学报理学版》(中文核心期刊) 15 篇:
http://zzdz.cbpt.cnki.net
《微电子学与计算机》(中文核心期刊) 30 篇:
http://wdzddyjsj.400qikan.com/
《西安邮电大学学报》(科技核心期刊) 30 篇:
http://xayd.cbpt.cnki.net
投稿论文请用 word 或 pdf,格式请参考推荐期刊要求。论文须包括:题目、作者
姓名、所属单位、Email 地址、联系人及手机号码、摘要、关键词、论文所属研究领
域代号(例 1A,2B,5 等)、正文和参考文献、以及推荐意向。
五、其他
征文截止日期:2020年4月10日延期至2020年5月10日(中/英文稿)

投稿地址:https://easychair.org/conferences/?conf=ccfctc2020

联系人:邓军勇 CTC_2020@163.com

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